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　　申请号：201480001980.5

       申请人：住友电气工业株式会社 住友电工硬质合金株式会社

       发明人：西林良树 植田晓彦 角谷均 小林丰 关裕一郎 高桥利也

       摘要： 一种单晶金刚石(10)具有表面(10a)。在所述单晶金刚石(10)中，在所述表面(10a)中限定有测定区域(20)，测定区域(20)包含显示单晶金刚石(10)中最高透光率的部分和显示单晶金刚石(10)中最低透光率的部分，测定区域(20)具有连续排列且各自具有长度为0.2mm的边的多个正方形区域(20a)，且对所述多个正方形区域(20a)中的每个正方形区域中的透光率的平均值进行测定，其中假设将在一个正方形区域(20a)中的透光率的平均值定义为T1，且将在与所述一个正方形区域(20a)相邻的另一个正方形区域(20a)中的透光率的平均值定义为T2，在整个所述测定区域满足((T1-T2)/((T1+T2)/2)×100)/0.2≤20(％/mm)的关系。

       主权利要求：1.一种具有表面的单晶金刚石，在所述表面中限定有测定区域，所述测定区域具有连续排列且各自具有长度为0.2mm的边的多个第一正方形区域，所述测定区域包含显示所述单晶金刚石中最高透光率的部分和显示所述单晶金刚石中最低透光率的部分，且对所述多个第一正方形区域的每个第一正方形区域中的所述透光率的平均值进行测定，其中假设将在所述第一正方形区域中的一个第一正方形区域中的所述透光率的平均值定义为T1，且将在与所述一个第一正方形区域相邻的另一个第一正方形区域中的所述透光率的平均值定义为T2，在整个所述测定区域满足((T1-T2)/((T1+T2)/2)×100)/0.2≤20(％/mm)的关系。

       2.根据权利要求1的单晶金刚石，其中所述第一正方形区域在所 述测定区域中以直线形状连续排列。

       3.根据权利要求1或2的单晶金刚石，其中在所述表面中限定有 具有长度为0.5mm或1mm的边的第二正方形区域且在所述第二正方形 区域中测定所述透光率的情况下，在所述第二正方形区域中测定的所 述透光率的频率分布中存在单峰。

       4.根据权利要求1～3中任一项的单晶金刚石，其中在以波长为 550nm或800nm的光照射所述单晶金刚石的状态下测定所述透光率。

       5.根据权利要求1～4中任一项的单晶金刚石，其中所述单晶金 刚石通过气相合成法形成。

       6.根据权利要求1～5中任一项的单晶金刚石，其中所述单晶金 刚石用于金刚石工具中。

       7.一种金刚石工具，其包含权利要求1的单晶金刚石。